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CVRam显微拉曼光谱仪
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UV11II系列紫外可见分光光度计
天美荧光分光光度计FL970
【Hitachi】日立荧光光谱仪F-7000
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爱丁堡仪器稳态/瞬态荧光光谱仪FLS1000系列
爱丁堡一体化稳态瞬态荧光光谱仪FS5
PF7/5/3系列原子荧光光度计
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澳柯玛4℃血液冷藏箱XC-400
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澳柯玛医用冷藏冷冻箱YCD-288A
澳柯玛医用冷藏冷冻箱YCD-208
澳柯玛-25℃低温保存箱DW-25L300
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澳柯玛-86℃超低温保存箱DW-86L348
澳柯玛-86℃超低温保存箱DW-86L102
牛津仪器光学恒温器
光学仪器及设备
本原纳米BY3000原子力显微镜
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本原纳米CSPM5500扫描探针显微镜
WITec alpha300 access拉曼成像光谱仪
WITec alpha 300S扫描近场光学显微镜
WITec alpha300 A原子力显微镜
体视显微镜XTL-201
透反射率测量仪RT100
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产品描述
仪器介绍
TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm,可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜,还可以测量n和k值。
产品特点
快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高
应用领域
半导体(SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS,SOI等)
LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亚酰胺ITO等)
LED (SiO2、光刻胶ITO等)
触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等)
汽车(防雾层、Hard Coating DLC等)
医学(聚对二甲苯涂层球囊/导尿管壁厚药膜等)
技术参数
型号 | TF200-VIS | TF200-EXR | TF200-DUV | TF200-XNIR |
波长范围 | 380-1050nm | 380-1700nm | 190-1100nm | 900-1700nm |
厚度范围 | 50nm-40um | 50nm-300um | 1nm-30um | 10um-3mm |
准确度1 | 2nm | 2nm | 1nm | 10nm |
精度 | 0.2nm | 0.2nm | 0.2nm | 3nm |
入射角 | 90℃ | 90℃ | 90℃ | 90℃ |
样品材料 | 透明或半透明 | 透明或半透明 | 透明或半透明 | 透明或半透明 |
测量模式 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 |
光斑尺寸2 | 2mm | 2mm | 2mm | 2mm |
是否能在线 | 是 | 是 | 是 | 是 |
扫描选择 | XY可选 | XY可选 | XY可选 | XY可选 |
注:1.取决于材料0.4%或2nm之间取较大者。
2.可选微光斑附件。